德爾HD-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀

全自動的程序

  可*自動的從暗盒里移出和取回成像板

  靈活的消磁

  取決于應用，消磁單元可以作相應的預置

  掃描裝置

  帶激光器的光學單元，五棱鏡和光電倍增管

  通風管

  通風管內(nèi)殘留的冷卻空氣不會將任何灰塵帶入設備

  傳送導航

  引導成像板正確的通往探測單元

  暗盒

  堅固的鋁制暗盒增加使用壽命并為成像板提供保護

德爾HD-CR 43 NDT工業(yè)CR掃描儀

高清晰度圖象

 分辨率

  激光閱讀像素可在12.5μm到200μm之間調(diào)節(jié)（HD版本）

 網(wǎng)絡/獨立

  快速連接到網(wǎng)絡或是作為獨立工作站安裝

 始終配合

  巧妙設計符合高質(zhì)量

  成像板暗盒

   通用的有3種尺寸和2種分辨率

 HD-CR 43 NDT · 通過的技術(shù)獲得清晰圖象

  壁厚測量

  可減少80%曝光時間

 焊縫檢測

  根據(jù)EN14784和ASTM2446鑒定

  鑄件

  對于厚壁部分也能達到精確結(jié)果

  航空部件

  高于膠片質(zhì)量

  精密的機構(gòu)

  高精度的組件，無偽影

  數(shù)據(jù)安全

  簡化的文檔和數(shù)據(jù)共享

  壁厚測量

  自動測量壁厚的工具

 25,000次循環(huán)

  無擦傷25,000

 （環(huán)境應用）

  D-Tect 軟件直觀操作

  自動壁厚測量

  由于可使用任意選擇的測量工具測量壁厚，確定壁厚就變得非常簡單。

  不管是手動校準數(shù)據(jù)的輸入還是曝光參數(shù)已經(jīng)記錄，測量工具都能兼顧到。都可作為X射線照相技術(shù)的要求

  直方圖均值化

  在直方圖里灰度值的均值化可同時對不同密度材料進行光學評定

  高對比度濾波器

  濾波器允許優(yōu)化圖像對比率。原始數(shù)據(jù)會無變化的保留

  鑄件檢測

  檢測鑄件需要特殊的濾波器來精確地分辨檢測對象的外部邊緣

  測量也可以使圖象以實際的3D形式顯示來完成

  用戶定制設計的工具可根據(jù)要求開發(fā)

  邏輯的

  通過直觀操作概念簡單快速地操作

  智能

  可單獨調(diào)節(jié)參數(shù)選擇

  *的

  特殊的軟件解決方案的概念是可實現(xiàn)的